日本NISSHIN日新 SEM光栅复制品 Cat.No.1092-1002

货号: Cat.No.1092-1002

库存: 0

品牌: 日本NISSHIN日新

¥0.00

可用于检测SEM放大倍率的老化并调整SEM设备（散光校正等），而非测量扫描电子显微镜的绝对放大率。采用Au-PD阴影处理，因此可作为高对比度图像观测。有两种不同晶格间距的类型。■ 格栅复制品（S22）网格形状：2000格栅/毫米（线间距：0.5微米），横向交叉。■ 格栅复制品…

分类: 其他, 日本NISSHIN日新,

产品详情

可用于检测SEM放大倍率的老化并调整SEM设备（散光校正等），而非测量扫描电子显微镜的绝对放大率。

采用Au-PD阴影处理，因此可作为高对比度图像观测。

·有两种不同晶格间距的类型。

■ 格栅复制品（S22）

网格形状：2000格栅/毫米（线间距：0.5微米），横向交叉。

■ 格栅复制品（第12季）

网格形状：2000片/毫米（线间距：0.5微米）和1000光线/毫米（线间距：1微米）的光栅在垂直和水平方向交叉。

*样品形状：这是一个用于SEM观测的复制膜，带有Au-Pd预阴影。

*所用板材：在4.5毫米Φ铝板上用石墨膏粘合并固定。

※有効使用保証面积：1.0mm角程度以上

*网格间距精度：由于产品的特性，我们无法保证网格间距的绝对尺寸或准确性。

江西省萍乡市安源区春雷粮油批发市场招商中心二楼201-203室

相关产品