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日本NIRECO尼利可卷片检查系统EV-01

EV-01

货号: EV-01
库存: 0 无货

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简介

一种离线质量检测系统,专为光学薄膜、玻璃基底和铜箔CCL等材料的辊或切割片设计。

产品详情

规格

卷片检查系统(内置)NUW-003

线路速度5~150m/min(检测时线速取决于分辨率)
张力50N~150N
最大直径Φ350mm
绕线方向上线、上线、上线、检查与上线、自动缺陷位置放线
滚转方向展开(从上侧或底部展开)、上线(向顶部或底部展开)
EPC搭载Nireco最新车型
张力控制搭载Nireco最新车型
驱动方法伺服电机驱动:一个用于绕组;一个是用来放松的
概述内置无试研+,绕组直径检测和锥度控制
,触控滚轮展开与绕线

注意:如需其他规格,请联系我们。

切割片检查阶段 EV-01

板材尺寸从A4(210mm ☓ 297mm)尺寸起(请与我们讨论您的需求)
线传感器相机各种型号,如8192像素、4096像素等。
检查解决10微米、20微米、20微米或更大(请与我们讨论您的需求)
照明单元透明和反射模式的组合。可以在它们之间切换。
指挥开始检查,输入图像,手动移动(+/-),设置检测范围等。
数据分析功能缺陷图像多显示、缺陷图输出、CSV检测数据(XY坐标、尺寸、类型)、数值密度(数量/平方米)、颗粒尺寸分布数据、每种缺陷类型的频率图
传动系统由伺服电机在Y轴线性驱动
选项– 安全幕(感知人群)
– X轴驱动
– 投影映射连锁


日本NIRECO尼利可近红外光谱分析仪A8850
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日本NIRECO尼利可近红外光谱分析仪A8850
日本NIRECO尼利可卷片检查系统NUW-003
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日本NIRECO尼利可卷片检查系统NUW-003