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MITUTOYO三丰影像仪YPER QVWLI 302

影像仪HYPER QVWLI 302

货号: YPER QVWLI 302
库存: 0 无货

¥280000.00 ¥245000.00


简介

HYPER QV WLI配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量

产品详情

屏幕截图_22-8-2026_142046_mitutoyo.tianyintengda.cn.jpeg

MITUTOYO三丰影像仪HYPER QVWLI 404
¥245000.00
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MITUTOYO三丰影像仪QM-Fit
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