日本进口HORIBA堀场 AFM光学平台

HORIBA堀场 AFM光学平台

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品牌: HORIBA堀场

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简介

AFM平台允许将共聚焦拉曼显微镜和AFM完全集成用于Tip增强光学光谱（如Tip增强拉曼光谱（TERS）和Tip增强光辉光学（TEPL）），同时也实现真正共定位的AFM-Raman测量。可用于研究地形、电学和机械特性的众多原子力显微镜（AFM）技术，可以通过拉曼光谱仪中任何激光源或其他…

分类: 电子计测·仪器仪表, HORIBA堀场,

产品详情

AFM平台允许将共聚焦拉曼显微镜和AFM完全集成用于Tip增强光学光谱（如Tip增强拉曼光谱（TERS）和Tip增强光辉光学（TEPL）），同时也实现真正共定位的AFM-Raman测量。

可用于研究地形、电学和机械特性的众多原子力显微镜（AFM）技术，可以通过拉曼光谱仪中任何激光源或其他外部照明（如太阳模拟器或其他可调谐或连续介质光源）进行。TERS 和 TEPL 能够提供纳米尺度的化学和结构信息，使 AFM-Raman 平台成为一条双向通道;在互补技术中，彼此提供了新颖且独特的成像能力。

AFM Optical Platform