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电子计测·仪器仪表 HORIBA堀场江崎推荐HORIBA堀场 OES-Star

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HORIBA堀场 OES-Star

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品牌: HORIBA堀场

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简介

堀庭的OEM部门作为OES解决方案的主要供应商，开发了一款高端OES光谱仪，采用专有光学配置，支持宽覆盖范围（185-1050纳米）和高分辨率。OES-Star提供三种紫外可见近红外背光（B.I.）传感器、一款TE冷却和两种非冷却CCD探测器。该独特OES系统采用光学设计，在极宽的光谱范…

分类: 电子计测·仪器仪表, HORIBA堀场,

产品详情

一般光谱仪规格*
频谱覆盖	185 – 1050 nm（2048 水平像素格式，像素尺寸为 14 微米）200 – 1050 nm（2048 水平像素格式，像素尺寸为 12 微米）
光谱仪输入	SMA（标准），其他输入类型可根据要求提供
光谱分辨率	<1.25纳米，22微米狭缝，具有极高的对称性，覆盖宽光谱范围（根据客户需求灵活调整）
平均光谱色散	34.6 nm/mm，0.484 nm/像素（14微米像素尺寸），0.41 nm/像素（12微米像素尺寸）
焦距	116毫米
F/ #	F/2.3
波长精度	< +/- 0.1 纳米
迷离光	< 0.1%*
软件	LabVIEW™初步评估采集软件（提供DLL用于软件集成）
重量	13.2磅

可滚动

CCD探测器模型	带最佳动态范围的冷却BI高端CCD （S13241-1108S）	BI CCD 中级（ S14660-2048N）	BI CCD成本效益高（S11071-1106N）
CCD传感器格式	2048 x 256	2048 x 192	2048 x 70
CCD像素尺寸	12 x 12 微米	14 x 14 微米	14 x 14 微米
图像尺寸	24.5 x 3.0毫米	28.6 x 2.68 毫米	28.7 x 1.0 毫米
CCD QE 在 20°C	峰值时达到90%或以上	在宽频谱范围内的高灵敏度	> 450 - 750 nm 的 75%
深度热电冷却	-5º C	非冷却	非冷却
满井容量	500,000 e ̄/像素（典型）	200,000 e ̄/像素（典型）	>200,000 e ̄/像素（典型） >175,000 e ̄/像素（最低）
读出噪声	50 e ̄（典型）（ @ 1.5MHz采样）	40 e ̄（典型） 50 e ̄（最大）	35 e ̄（典型） 45 e ̄（最大）
数字化	16位ADC	16位ADC	16位ADC
动态范围（FW/RN）	10000:1	5000:1	5700:1
非线性（在每个系统上测量）	低增益时最大<1.8%<高增益时最大0.9%	<0.1%（修正后）	<0.1%（修正后）
暗流	1.5 e-/pixel/s（典型）@-5° C 15 e ̄/pixel/s（最大值）	50 e ̄/像素/秒（典型） @ 20° C 500 e ̄/像素/秒（最大）	50 e ̄/像素/秒（典型） @ 20° C 500 e ̄/像素/秒（最大）
环境条件	工作温度环境湿度 0°C 至 40° C 相对湿度 <70%（非冷凝）储存温度 -20°C 至 50°C
电源需求交流 /直流电源（提供）	90-264 交流电，47–63 Hz

日本进口HORIBA堀场 VS70-MC
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江崎推荐HORIBA堀场 VS70-PDA
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