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江崎推荐HORIBA堀场LabRAM Soleil Nano

HORIBA堀场LabRAM Soleil Nano

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库存: 0 无货
品牌: HORIBA堀场

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简介

基于我们的OmegaScope扫描探针显微镜和LabRAM Soleil Raman显微镜的全集成系统。LabRAM Soleil Nano 提供了前所未有的直接共定位 AFM-Raman 和光致发光测量能力。AFM成像模式(地形、电气、机械等)和拉曼采集可以在样品表面的同一位置顺序或同时进行。通过尖端增强拉曼光…

产品详情

SmartSPM 扫描仪和基座

样品扫描范围:100微米 x 100微米 x 15微米(±10%)

按样本分类的扫描类型:XY 非线性度 0.05%;Z 非线性 0.05%

噪声:0.1 nm RMS,XY尺寸,200 Hz带宽,电容传感器开启;关闭电容传感器时,XY尺寸为0.02 nm RMS,带宽为100 Hz;< 0.04 nm RMS Z 电容传感器,带宽为1000 Hz

共振频率:XY:7 kHz(无负载);Z:15 kHz(未负载)

X、Y、Z移动:X、Y、Z轴的数字闭环控制;机动Z型进近范围18毫米

样本尺寸:最大40 x 50毫米,厚度15毫米

样品定位:电动样品定位范围 5 x 5 毫米

定位分辨率:1 微米
 

AFM头部

激光波长:1300 nm,不干扰光谱探测器

定位系统噪声:可降至<0.1纳米

校准:全自动悬臂梁和光电二极管校准

探针通道:为额外的外部操作器和探针提供免费探针通道
 

SPM测量模式

空气中接触AFM(液体可选);半接触式空气/液态AFM;非接触式AFM;相位成像;侧力显微镜(LFM);力调制;导电式AFM(可选);磁力显微镜(MFM);开尔文探针(表面势显微镜,SKM,KPFM);电容与电力显微镜(EFM);力曲线测量;压电响应力显微镜(PFM);纳米光刻;纳米操控;STM(可选);光电流映射(可选);伏特-安特性测量(可选)
 

光谱模式

共焦点拉曼、荧光与光致发光成像与光谱学

尖端增强拉曼光谱(TERS)和尖端增强光致发光(TEPL),在AFM、STM和剪切力模式下

近场光学扫描显微镜与光谱学(NSOM/SNOM)
 

选项

  • 导电单元:电流范围100fA÷10uA/3个电流范围(1nA、100nA和10μA),可通过软件切换

  • 液态电池 / 电化学电池

  • 液体电池的温度控制: 加热至60°C

  • 环境商会

  • 湿度控制系统:相对湿度范围10-85% / 相对湿度稳定性±1%

  • 加热冷却模块:从-50°C到+100°C

  • 加热模块:加热至最高300°C / 温度稳定性0.1°C,或加热至150°C / 温度稳定性0.01°C

  • 剪切力与法向力合成音叉座

  • STM持有者

  • 信号接入模块

     

光学接入

能够同时使用顶平面和侧面平面的消色素物镜:最多100倍,NA = 0.7 距离顶部或侧面;最多可同时达到20倍和100倍

闭环压电物镜扫描仪用于超稳定的长期光谱激光对准:范围为20 μm x 20 μm x 15 μm;分辨率:1 nm
 

光谱仪

波长范围:紫外线-可见-近红外;基于宽带高通量消色差镜面系统,优化为300纳米至1600纳米,且不更换光学元件。

内置激光器:最多可使用4台固态激光器,支持近UV至近红外波长。

外部激光器:无限,通常用于大型气体和超快激光器。

光谱仪扫描速度:最高可达400 nm/s,配备600g/mm光栅,安装在标准4光栅炮塔上。

栅数量:无限;四格栅可更换电动炮塔。

快速成像:<1毫秒/频谱SWIFT、SWIFT XS EMCCD、SWIFT REPETIVE、SWIFT EXtended Range和SmartSampling,用于超高速成像。

标准波数截止:30厘米-1配备532、638和785纳米波长的边缘滤波器,注入抑制,>99%的透射率。

 

软件

集成软件包,包括功能齐全的SPM、光谱仪和数据采集控制、光谱学和SPM数据分析与处理套件,包括谱拟合、反卷积和滤波,可选模块包括单变量和多变量分析套件(PCA、MCR、HCA、DCA)、粒子检测和光谱搜索功能。

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日本进口HORIBA堀场LabRAM Soleil
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