日本精品HORIBA堀场 nanoPartica SZ-100V2系列

HORIBA堀场 nanoPartica SZ-100V2系列

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品牌: HORIBA堀场

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一台高度先进的分析仪解开了纳米世界的谜团。单个设备分析纳米颗粒的三个参数：颗粒大小、ζ电位和分子量。纳米技术的研发是一项不断发展的努力，旨在从原子和分子层面控制物质，以实现新的、更好的材料和产品。组件的微型化——即纳米级的控制——对于实现更快、更高性能…

分类: 电子计测·仪器仪表, HORIBA堀场,

产品详情

模型	SZ-100-S2和SZ-100-HS2（仅限颗粒尺寸和分子量测量）
测量原理	颗粒尺寸测量：动态光散射分子量测量：德拜图法（静态散射光强度）
测量范围	颗粒尺寸：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 x 107Da（德拜剧情） 540至2 x 107Da（MHS方程）*1
最大样品浓度	40 重*2
颗粒尺寸测量精度	NIST可追溯聚苯乙烯乳胶 100纳米球体的测量准确率为±2%（不含标准颗粒本身的变化）
测量角度	90°和173°（自动或手动选择）
细胞	卡维特
测量时间	在正常条件下（从测量开始到颗粒尺寸测量结果显示）约2分钟
所需样本量	最小容积为12微升*3到1000微升（取决于电池材料）
可用液体	水、乙醇、有机溶剂