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江崎推荐HORIBA堀场XploRA 纳米

HORIBA堀场XploRA 纳米

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库存: 0 无货
品牌: HORIBA堀场

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简介

基于SmartSPM的先进扫描探针显微镜和XploRA拉曼显微光谱仪的全集成系统。XploRA Nano 紧凑、全自动且易于使用,将 AFM-Raman 的强大性能集中于一个价格实惠且功能齐全的方案中,使 TERS 成像成为人人可行的现实。TERS经过验证的系统。

产品详情

SmartSPM 扫描仪和基座

样品扫描范围:100微米 x 100微米 x 15微米(±10%)

扫描类型按样本分类:XY 非线性 0.05%;Z 非线性 0.05%

噪声:200 Hz带宽内,XY尺寸为0.1 nm RMS,电容传感器开启;100 Hz带宽内,电容传感器关闭时,XY尺寸为0.02 nm RMS;< 0.04 nm RMS Z电容传感器,1000 Hz带宽

共振频率:XY:7 kHz(无负载);Z:15 kHz(无负载)

X、Y、Z移动:X、Y、Z轴的数字闭环控制;电动Z进近范围18毫米

样本尺寸:最大40 x 50毫米,厚度15毫米

样品定位:电动样品定位范围 5 x 5 毫米

定位分辨率:1 微米

AFM头部

激光波长:1300 nm,不干扰光谱探测器

校准:全自动悬臂梁和光电二极管校准

探针通道:为额外的外部操作器和探针提供免费探针通道

SPM测量模式

空气接触式AFM(液体可选);空气半接触式AFM(液体可选);非接触AFM;相位成像;侧向力显微镜(LFM);力调制;导电AFM(可选);磁力显微镜(MFM);开尔文探针(表面势显微镜,SKM,KPFM);电容与电力显微镜(EFM);力曲线测量;压电响应力显微镜(PFM);纳米光刻;纳米操作;STM(可选);光电流映射(可选);伏安特性测量(可选)

光谱模式

共焦点拉曼、荧光与光致发光成像与光谱学

AFM、STM和剪切力模式下的尖端增强拉曼光谱(TERS)

尖端增强光致发光(TEPL)

近场光学扫描显微镜与光谱学(NSOM/SNOM)

导电式AFM单元(可选)

电流范围:100 fA ÷ 10 μA;3个电流范围(1 nA、100 nA和10 μA),可通过软件切换

光学接入

可同时使用顶平面和侧面平面的消色器物镜:最高可达100倍,NA = 0.7(距上或侧);最多可同时使用20倍和100倍

闭环压电物镜扫描仪,用于超稳定的长期光谱激光对准:范围20微米 x 20微米 x 15微米;分辨率:1纳米

光谱仪

全自动XploRA Plus紧凑型微型光谱仪,可作为独立的微拉曼显微镜使用。

波长范围:60厘米-1可达4000厘米-1 

栅:计算机控制炮塔上的4个光栅(600、1200、1800和2400 g/mm)

自动化:全电动、软件控制操作

检测

全系列CCD探测器和EMCCD探测器。

激光源

典型波长:532 nm、638 nm、785 nm。

自动化:全电动、软件控制操作

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