电子计测·仪器仪表 HORIBA堀场 HORIBA堀场超大样品室X射线荧光分析仪XGT-9000SL Pro

HORIBA堀场超大样品室X射线荧光分析仪XGT-9000SL Pro

XGT-9000SL Pro

货号: XGT-9000SL Pro

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简介

超大样品仓空间: 1030 mm x 950 mm x 500 mm [宽x深x高]大扫描区域：高达350 mm x 350 mmX 射线辐射防护（符合IEC61010-1/JAIMAS0101-2001）超高强度X射线探头的光斑尺寸小于15m，兼具高灵敏度和高空间分辨率双检测器配置，同时检测荧光 X 射线和透射 X 射

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产品详情

基本信息
型号	XGT-9000SL
型号	XGT-9000SL Pro	XGT-9000SL C
名称	超大样品室微区X射线荧光分析仪
原理	能量色散X射线荧光光谱法
可检测元素	F (9)* - Am (95)	C (6)* - Am (95)
样品室内部尺寸	1030 mm (宽) x 950 mm (深) x 500 mm (高)
最大样品质量	10 kg
最大扫描区域	在最大可扫描样品 500 mm (W) x 500 mm (D) 上最大 350 mm x 350 mm
样品观察
光学图像观察	两个高分辨率相机
全景图像细节图像	5M像素，视场：350 mm x 350 mm 5M像素，视场：2.5 mm x 2.5 mm
光路设计	同轴的 X 射线和光学观察系统垂直检测
样品照明/观察	顶部、底部和侧面照明/明场和暗场
X 射线发生器
功率	最大50 W
管电压	最大50 kV
管电流	最大 1 mA
靶材	铑(Rh)
X 射线导管（探头）
X 射线探头束斑尺寸选择	可以提供各种探头组合（例如：可选择15 μm 超高强度探头和100 μm 超高强度探头组合）
检测器
荧光 X 射线检测器	无液氮制冷硅漂移检测器（SDD）
透射 X 射线检测器	NaI (Tl)
工作模式
样品检测环境	局部真空大气 He吹扫（可选）*	局部真空大气 He吹扫（可选）*
仪器外形尺寸（主机）
外形尺寸	1090 mm (宽) x 1380 mm (深) x 1820 mm (高)
重量	约 550 kg