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江崎推荐HORIBA堀场LabRAM 奥德赛纳米

HORIBA堀场LabRAM 奥德赛纳米

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库存: 0 无货
品牌: HORIBA堀场

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简介

基于SmartSPM的全集成系统,配备先进的扫描探针显微镜和LabRAM Odyssey全自动拉曼微光谱仪。LabRAM Odyssey Nano 提供全自动化和多功能兼容性,性能卓越。LabRAM Odyssey Nano 结合了易用性和极高灵活性,适用于最严苛的应用。LabRAM Odyssey Nano 拥有从深紫外到红外等能…

产品详情

SmartSPM 扫描仪和基座

样品扫描范围:100微米 x 100微米 x 15微米(±10%)

按样本分类的扫描类型:XY 非线性度 0.05%;Z 非线性 0.05%

噪声:0.1 nm RMS,XY尺寸,200 Hz带宽,电容传感器开启;关闭电容传感器时,XY尺寸为0.02 nm RMS,带宽为100 Hz;< 0.04 nm RMS Z 电容传感器,带宽为1000 Hz

共振频率:XY:7 kHz(无负载);Z:15 kHz(未负载)

X、Y、Z移动:X、Y、Z轴的数字闭环控制;机动Z型进近范围18毫米

样本尺寸:最大40 x 50毫米,厚度15毫米

样品定位:电动样品定位范围 5 x 5 毫米

定位分辨率:1 微米

AFM头部

激光波长:1300 nm,不干扰光谱探测器

定位系统噪声:可降至<0.1纳米

校准:全自动悬臂梁和光电二极管校准

探针通道:为额外的外部操作器和探针提供免费探针通道

SPM测量模式

空气中接触AFM(液体可选);半接触式空气/液态AFM;非接触式AFM;相位成像;侧力显微镜(LFM);力调制;导电式AFM(可选);磁力显微镜(MFM);开尔文探针(表面势显微镜,SKM,KPFM);电容与电力显微镜(EFM);力曲线测量;压电响应力显微镜(PFM);纳米光刻;纳米操控;STM(可选);光电流映射(可选);伏特-安特性测量(可选)

光谱模式

共焦点拉曼、荧光与光致发光成像与光谱学

AFM、STM和剪切力模式下的尖端增强拉曼光谱(TERS)

尖端增强光致发光(TEPL)

近场光学扫描显微镜与光谱学(NSOM/SNOM)

导电式AFM单元(可选)

电流范围:100 fA ÷ 10 μA;软件可切换3个电流范围(1 nA、100 nA和10 μA)

光学接入

能够同时使用顶平面和侧面平面的消色素物镜:最多100倍,NA = 0.7 距离顶部或侧面;最多可同时达到20倍和100倍

闭环压电物镜扫描仪用于超稳定的长期光谱激光对准:范围为20 μm x 20 μm x 15 μm;分辨率:1 nm

光谱仪

全自动高分辨率LabRAM Odyssey微型光谱仪,可作为独立的微拉曼显微镜使用。

波长范围:50厘米-1可达4000厘米-1或最小至10厘米-1配备超低频(ULF)滤波器选项

:光栅选择范围从150 g/mm到3600 g/mm;2个格栅安装在计算机控制炮塔上,运动学安装,易于更换

光学设计:消色差光谱仪与消色差耦合光学

自动化:全电动、软件控制操作

检测

全范围的CCD探测器、EMCCD和红外探测器:InGaAs阵列、单通道扩展InGaAs、InSb、CdTe,...

激光源

波长:从远射波(229 nm)到红外波(最高可达1064 nm)的全波段

典型波长:532纳米、638纳米、785纳米

自动化:全自动激光器和滤光片切换,最多可同时运行3台激光器;适用于所有波长的激光偏振选择和光谱分析仪选项

软件

集成软件包,包括功能齐全的SPM、光谱仪和数据采集控制、光谱学和SPM数据分析与处理套件,包括谱拟合、反卷积和滤波,可选模块包括单变量和多变量分析套件(PCA、MCR、HCA、DCA)、粒子检测和光谱搜索功能。

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日本进口HORIBA堀场LabRAM 奥德赛半导体
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