HORIBA堀场高效高性能的微型光谱仪VU111

VU111

货号: VU111

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品牌: HORIBA堀场

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简介

高光谱分辨率（在 312 nm 或 223 nm 处低至 0.3 nm 分辨率）CCD 标准，可根据要求提供 CMOS/PDA可配置线性 CMOS 以实现经济实惠，或可配置 CCD 以实现最高灵敏度WL 范围：深 UV/UV超低杂散光针对许多应用高度可定制大批量生产能力

分类: 电子计测·仪器仪表, HORIBA堀场,

产品详情

光谱仪通用规格*

光谱覆盖范围	Deep UV & UV
最低分辨率	第 1 次优化：0.3 nm @ 312 nm 第 2 次优化：0.3 nm @ 223 nm
平均分辨率从 220 nm 到 330 nm	第 1 次优化：从 220 nm 到 330 nm 第 2 次优化：高达 240 nm
工作 F/#	f/2.7
杂散光	<0.1% / 超低杂散光
选项	狭缝尺寸可定制
软件	用于初始评估的 LabVIEW™ 采集软件（为软件集成提供 DLL）

可滚动

探测器选件和规格

线性前照式 CMOS 传感器，具有高速和 UV 扩展功能		线性背照式 CCD，具有大有效面积和高灵敏度
传感器类型	滨松 CMOS 线阵图像传感器 S11639，具有主动像素结构和全局电子快门	滨松 CCD 传感器 S11071 具有高光谱采集速度	具有高动态范围的滨松 CCD 传感器 S10420
传感器格式	2048 x 1 像素	2048 x 70 像素，可根据要求提供更短的版本	2048 x 70 像素，可根据要求提供更短的版本
活动区域	28.7 x 0.2 毫米	28.7 x 1 毫米	28.7 x 1 毫米
像素大小	14 x 200 微米	14 x 14 微米	14 x 14 微米
量化宽松	> 450 - 750 nm 为 75%
满阱容量	100,000 e ̄（典型值） 80,000 e ̄（最小值）	>240,000 e ̄（典型值） >175,000 e ̄（最小值）	>375,000 e ̄（高 FW 模式
读出噪声	16 e ̄（典型） 20 e ̄（最大）	35 e ̄（典型） 45 e ̄（最大）	50 e ̄（典型值）& 75 e ̄最大值）在高满阱模式下
最大光谱速率	1400 光谱/秒或更高	770 光谱/秒	223 光谱/秒
模数转换器	16 位	16 位	16 位
动态范围（FW/RN）	6250：1（典型）	6800：1（典型）	7500：1（高固件模式）（典型）
非线性	<0.1% （修正）	<0.4% （修正）	<0.4% （修正）
暗电流（@25° C）	375 e ̄/像素/s（典型） 500 e ̄/像素/s（最大）	50 e ̄/像素/s（典型值） 500 e ̄/像素/s（最大值）	50 e ̄/像素/s（典型值） 500 e ̄/像素/s（最大值）
通信	USB 2 接口
环境条件	工作温度 +15°C 至 45°C 环境相对湿度 <70%（非冷凝）;储存温度 -20°C 至 60°C
电源要求	通过 USB 2

可滚动

提供其他探测器选项，例如具有无源像素结构和高达 1Ge 的全阱 CMOS-PDA。

线性 CMOS-PDA 选项（可根据要求提供其他传感器）
传感器类型	S1012X 系列（高性能）	S837X 系列（低成本）
像素格式	25 或 50 μm 像素间距;0.5 或 2.5 mm 像素高度;512 像素或 1024 像素
检测器 QE	请参阅以下页面上的图表
满阱（e-）	从 94 Me ̄ 到 1 Ge ̄（典型值）	从 43 Me ̄ 到 430 Me ̄（典型值）
读出噪声（e-）	5200 e ̄（典型值）	3370 E ̄（典型）
光谱仪外壳会略有不同，具体取决于 CMOS-PDA 选件