电子计测·仪器仪表 HORIBA堀场 HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪XGT-9000

HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪XGT-9000

XGT-9000

货号: XGT-9000

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品牌: HORIBA堀场

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<15m 超高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率高分辨相机和多种照明模式成像双检测器！荧光X射线检测器和透射X射线检测器轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素

分类: 电子计测·仪器仪表, HORIBA堀场,

产品详情

型号	XGT-9000	XGT-9000SL
基本信息
仪器	微区X射线荧光分析仪
样品类型	固体、液体、颗粒
检测元素	轻元素检测器：C* – Am (常规检测器：F – Am)
样品仓尺寸	450(W) x 500(D) x 80(H)	1030(W) x 950(D) x 500(H)
最大样品尺寸	300(W) x 250(D) x 80(H)	500(W) x 500(D) x 500(H)
样品最大质量	1 kg	10 kg
光学观察	两个带物镜的高分辨率相机
光学设计	垂直同轴 X 射线和光学观察
样品照明/观察	顶部、底部和侧向照明/明场和暗场
X-射线管
功率	50 W
电压	最高50 kV
电流	最大1 mA
靶材	Rh
X射线光光学系统
X射线头数量	最多配置四个
光谱优化初级X-射线滤光片	5个位置
检测器
荧光X-射线检测器	硅漂移检测器（SDD）
透射X射线检测器	NaI(Tl)
扫描分析
扫描范围	100 mm x 100 mm	350 mm x 350 mm
步进尺寸	2 mm	4 mm
运行模式
样品环境	全真空/局部真空/大气环境/He吹扫（选配）	局部真空/大气环境/He吹扫（选配） *He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。