HORIBA堀场纳米粒度及Zeta电位分析仪SZ-100-S2

SZ-100-S2

货号: SZ-100-S2

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品牌: HORIBA堀场

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先进的分析仪器助您解开纳米世界的奥秘。只需单台设备就能表征纳米颗粒的三个参数：粒径、Zeta 电位和分子量。纳米技术的研发是一个持续不断的过程，这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸，从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效…

分类: 电子计测·仪器仪表, HORIBA堀场,

产品详情

型号	SZ-100-S2（仅限粒径和分子量测量）
测量原理	粒度测量：动态光散射分子量测量：德拜记点法（静态散射光强度）
测量范围	粒径：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜记点） 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1
最大样品浓度	40%*2
粒度测量精度	以100 nm的聚苯乙烯乳胶球体为例，其测量精度为 ±2% （不包括标准颗粒本身的变化）
测量角度	90°和173°（自动或手动选择）
样品池	比色皿
测量时间	常规条件下约 2分钟（从测量开始到显示粒度测量结果）
所需样品量	12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而异）
分散剂	水、乙醇、有机溶剂

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*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取决于样本。
*2：取决于样品。
*3：F 微型电池。

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*4：取决于样品。
*5：推荐的样品电导率范围：0 到 2 S/m。
*6：取决于样品。

测量单元光学系统	光源：二极管泵浦倍频激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW）检测器：光电倍增管（PMT）
激光分类	一级
工作温度和湿度	15 - 35 °C，RH 85% 或更低（无冷凝）
支架温度控制温度设置	0 - 90 °C（石墨电极电位样品池控温最高可达 70 °C）
吹扫	可以连接干燥气体吹扫端口管。
电源供应	交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA
外观尺寸	528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分）
重量	25 kg
电脑	带有一个可用 USB 端口的 Windows 计算机
界面	USB 2.0（测量单元和 PC 之间）
操作系统	Windows® 10 32/64 位